| ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 |
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| ◆ 特点： |
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| 1 | 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定 | | 2 | 低功耗 | | 3 | 采用单个电池供电，带电池欠压指示 | | 4 | 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm | | 5 | 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 | | 6 | 探头带抗静电模块 | |
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| ◆ 技术指标： |
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| 测量范围 | 基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口) | | 测量不确定度 | ≤5% | | 探针规格 | 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ | | 恒流源 | 测量过程误差：≤±0.8% | | 电源 | 9V叠层电池1节 | |
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