济南思克测试技术有限公司：品牌【SYSTESTER】
测厚仪（又称薄膜和薄片厚度测量仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）
检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
薄膜和薄片厚度测量仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
测厚仪
薄膜和薄片厚度测量仪技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：15次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
薄膜和薄片厚度测量仪产品特点：
32位嵌入式系统控制技术
技术，扁平化设计，直观，操作方便
触摸屏操作
所有操作均可在一个平面内完成，无须进入退出操作
TFT真彩色液晶显示
接触式厚度测量
测试过程自动化完成
手动、自动双重测量模式
可采用标准厚度计量工具标定、检验
符合GB，ASTM等多种标准规定，标准接触面积、测量压力（可定制）
量程可调（可根据要求定制）
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