济南思克测试技术有限公司：品牌【SYSTESTER】
测厚仪（又称烟叶厚度测试仪 膜厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）
检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
测厚仪
膜厚仪,薄膜厚度测试仪技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：25次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改权与终解释权！
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