XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 | ||||||||||||||
◆ 特点: | ||||||||||||||
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◆ 技术指标: | ||||||||||||||
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