检测头安装在光纤的末端,由感应头发出的高强度光穿透样品,光与样品作用后反射回感应头,经收集光纤束传送到仪器主机进行分光和信号检测。XDS近红外在 线分析仪的设计坚固耐用,为仪器在恶劣工业环境下操作时其性能和分析结果的一致性和稳定性提供了一个新标准。
仪器特性及优势
. 适用于移动样品的无损原位近红外检测
. 直接在产品线上的反射检测,无需直接接触样品
. 适用于传送带、 传送网带上的均匀或非均匀的样品
. 波长范围: 800-2200 nm
. 仪器符合 NEMA 4X/IP65,不锈钢检测头符合 IP69K 保护等级
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