关键词：纸张测厚仪，薄膜厚度仪，薄膜测厚仪，纸张厚度测定仪，纸张厚度仪，薄膜厚度测试仪，厚度计，薄膜厚度测量仪，薄膜厚度检测仪，薄膜厚度测定仪，薄片测厚仪，硅片测厚仪，GB 6672，
ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。
Labthink兰光研发生产的ITO薄膜厚度测量仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。
ITO薄膜厚度测量仪技术特征：
测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000 mm
进样速度：0.1～99.9 mm/s
以上【ITO薄膜厚度测量仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！
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