薄膜测厚仪应用范围
适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪主要特点
l 接触式测量原理
l 德国进口测厚传感器
l 触摸屏操作
l 扁平化人机交互界面显示
l 真彩色液晶显示试验数据、结果
l 手动、循环、预约定时多种测量模式
l 测试过程全自动完成
l 内嵌值、值、平均值、标准差数据统计分析功能
l 本机内置历史数据查询功能
l 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告
l 配置标准通信接口
l 可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）
薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm（标配）
0～10mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：1~25次/min（可调）
测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）
纸张：200mm2，50±1kPa（可选）
电 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
净 重：38kg
薄膜测厚仪执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜测厚仪产品配置
标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM实验室数据管理系统
注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改权与解释权！
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