X射线镀层测厚仪的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
应用实例图示
| （1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
| Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
| 底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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| （4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
| Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
| 底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
|
| Ni |
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| 底材 |
韩国XRF2000镀层测厚仪
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
精度控制：
层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪
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测量范围:0.04-35um
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