X-RAY电镀测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀膜厚仪,镀层测厚仪,X射线镀层测厚仪
韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度
如:镀铜,镀镍,镀金,镀银,镀锌,镀锡,镀钯等
韩国XRF2000镀层测厚仪
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
精度控制：
层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
我司主要经营韩国XRF-2000测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,电镀膜厚仪,电镀层测厚仪,XV测厚仪,X-RAY镀层测厚仪,膜厚测试仪,镀金测厚仪,镀镍测厚仪,镀银测厚仪,镀锌测厚仪,镀锡测厚仪,电镀膜厚测试仪,电镀层厚度检测仪,X射线镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀层测试仪，X光膜厚测试仪,X射线膜厚仪,电镀膜厚检测仪,X-RAY电镀膜厚仪,X-RAY膜厚测试仪
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