美国博曼X-RAY测厚仪采用了设计的发生器和DMC测量法光学编码定位系统，膜厚测试仪高科技的FP法计算，能对样品数据进行快速、精准的分析，基于当前的电子技术设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比。她完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果化、体积小型化、功能化的一次成功尝试。
博曼X-RAY测厚仪可测元素范围：13-92号元素
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器
博曼X-RAY测厚仪综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等X-RAY测厚仪),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
美国博曼X-RAY测厚仪的性价比可谓为整个膜厚测试仪的翘楚，详情请来电联系
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