美国博曼镀层膜厚仪是多用途的X射线荧光测量法的技术，适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。它能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素，这是非常的。简单的说：更多镀层！更多元素！更大灵敏度！
镀层膜厚仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 戴尔计算机
分析应用软件 操作系统：Windows7中文平台
－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能 采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：13-92号元素
博曼镀层膜厚仪BA-100样品台选择：
采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
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