粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层后的测量。工作原理是：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的使用方法
1、测量前应用标准片校准。在基体上进行一次测量，仪器显示。按一下“ON/C”键，屏显<0.00μm>即完成零点校准。要准确地校准零点，须重复上述步骤以获得基体测量值小于1μm，这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
2、测量，迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起测头可进行下次测量。通常由于仪器每次读数并不完全相同，因此必须在每一被测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在指定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。我们一般都是在被测物5个点进行测量。记下数据即可。
粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的保养及注意事项
1、严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污。
2、定期给主机充电：一般每工作8—24小时充电一次，每次充电12—14小时。
3、测量前，应清除表面上的任何附着物，如尘土、油脂及腐蚀物质等，但不要去除任何覆盖物。
粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的操作流程
步：清除校准记忆（仪器对多次校准操作具有记忆性）
第二步：零值校准（校准和测量的条件越相似测量越准确）
第三步：纠正性校准（由于仪器对多次校准操作具有记忆性，建议一个标准片校准一次）
公司名称：深圳市金东霖科技有限公司
地址:深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
公司网址: http://www.kinglinhk.net
联系人：夏瑾 手机：13602569417
QQ：2762951792
邮箱：Cici@Kinglinhk.net
责权声明：
①本版块的所有文章及图片均为客户自行编辑，其版权为客户所有，客户需保证其编辑的文章及图片均无侵犯任何第三方的合法权益，如被第三方维权，由客户承担全部责任；
② 本网站仅为展示平台，如要转载，请与我网站联系协助获得授权；
③发布内容如有侵权，请及时联系我网站进行删除。
※ 联系电话：400-854-6788
