镀层膜厚仪的技术参数:
1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;
2.原始射线从下至上;
3.X-射线管高压设定可调节至的应用:50kV,40kV或30kV;
4.准值器组:圆直径为0.3,02;在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形准值器与0.05X0.05方形准值器
5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)510 mm×455 mm×580 mm,重量大约为45kg;
6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×380mm)带向上回转箱门;
7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.
8.试件查看用标准的彩色摄像机;
9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。
镀层膜厚仪的应用范围:五金,电镀,端子。连接器,PCB 厂商,为电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业.
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