镀层膜厚仪的技术参数:
1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
2.原始射线从下至上；
3.X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV；
4.准值器组：圆直径为0.3,02；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形准值器与0.05X0.05方形准值器
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg；
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门；
7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.
8.试件查看用标准的彩色摄像机；
9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。
镀层膜厚仪的应用范围：五金，电镀，端子。连接器，PCB 厂商，为电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业.
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