用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……适用于所有有凹凸的机械部件与电路板的底部的测量
无损X射线膜厚计特点:
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有安全防射线光闸
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配4种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如0.1、0.2、0.3等 －方形，如0.05*0.05 －长方形0.3*0.05，0.03*0.2等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
无损X射线膜厚计的样品室
－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
－样品台尺寸 360*380*240
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度 80mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制
无损X射线膜厚计的可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：Smartlink FP软件包
－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：13–92号元素
公司名称：深圳市金东霖科技有限公司
地址:深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
公司网址: http://www.kinglinhk.net
联系人：夏瑾 手机：13602569417
QQ：2762951792
邮箱：Cici@Kinglinhk.net
责权声明：
①本版块的所有文章及图片均为客户自行编辑，其版权为客户所有，客户需保证其编辑的文章及图片均无侵犯任何第三方的合法权益，如被第三方维权，由客户承担全部责任；
② 本网站仅为展示平台，如要转载，请与我网站联系协助获得授权；
③发布内容如有侵权，请及时联系我网站进行删除。
※ 联系电话：400-854-6788
