fischer测厚仪是多用途的X射线荧光测量法的技术，适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。当设定测量程式（Def.MA)及自由种类选择时，它能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素，这是非常的。简单的说：更多镀层！更多元素！更大灵敏度！
fischer测厚仪的主要特点
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。
B ：精确度于世界，精确到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，可达0.025 x 0.051毫米
fischer测厚仪样品台选择：
fischer测厚仪采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
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