| |
HP-501型四探针探头
| 
HP-504型四探针探头 | |
| HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 |
| |
| ◆ 特性及规格： |
| |
| 1 | 特制之手握式探笔 | | 2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 | | 3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 | | 4 | 探头使用寿命长 | | 5 | 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ | |
| |
| ◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格： |
| |
型号
(Model) | 曲率半径
(Radius) | 压力
(loads) | 探针间距
(spacing) | 探针排列
(Arrangement) | | HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直线 | | HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直线 | | HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直线 | | HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直线 | |
责权声明：
①本版块的所有文章及图片均为客户自行编辑，其版权为客户所有，客户需保证其编辑的文章及图片均无侵犯任何第三方的合法权益，如被第三方维权，由客户承担全部责任；
② 本网站仅为展示平台，如要转载，请与我网站联系协助获得授权；
③发布内容如有侵权，请及时联系我网站进行删除。
※ 联系电话：400-854-6788
