FISCHERSCOPE菲希尔 XDVM测厚仪

FISCHERSCOPE菲希尔 XDVM测厚仪，是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层，FISCHERSCOPE X-RAY XDVM测厚仪，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z ＝92）。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（指定面积），如：硬盘镀层、细微的线。有极高精度，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量

责权声明：

①本版块的所有文章及图片均为客户自行编辑，其版权为客户所有，客户需保证其编辑的文章及图片均无侵犯任何第三方的合法权益，如被第三方维权，由客户承担全部责任；
② 本网站仅为展示平台，如要转载，请与我网站联系协助获得授权；
③发布内容如有侵权，请及时联系我网站进行删除。
※ 联系电话：400-854-6788