导体，半导体的被测物厚度测量
■ 传感器A与被测物间的间隙A
■ 传感器B与被测物间的间隙B
■ CL-0110 模拟信号输出，比较结果输出能
■ CL-0200 高分辨率处理功能-0.02 μm
■ CL-0210 高阻抗接地功能
■ CL-0300 绝缘体厚度测量功能
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