XR-100SDD硅漂移探测器是AMPTEK的产品，分辨率可达139ev！
应用领域 | X光荧光分析 |
| RoHS/WEE 欧盟指令测试仪 |
| OEM |
| 过程控制 |
| 科研 |
| 环境或核电站监测 |
| 高计数率 - 500,000 CPS |
| 139 eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV |
| 高峰值-本底比率 - 6500:1 |
| 7 mm2 X 500 µm |
| 电子冷却，无需液氮 |
55Fe Spectrum with silicon drift detector (SDD)
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